中航科技乐凯研究院起草的国标光学功能薄膜微结构厚度测试方法正式实施
发布时间:2024-07-11   来源:中国航天科技集团   阅读次数:282999 分享到:
近日,由中国航天科技集团有限公司中国乐凯研究院起草的国家标准GB/T 42674-2023《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》正式实施。
该标准规定了通过扫描电子显微镜(SEM)检测光学功能薄膜横截面微结构厚度的方法,适用于微米、纳米级光学功能薄膜各功能层微观结构测试。
这是我国首个覆盖光学功能薄膜全领域的微米-纳米级各功能层微观结构的测试标准。该标准的制定与实施,对于准确测定光学功能薄膜微结构厚度、规范行业测定方法、促进行业发展具有重要意义。
国家标准《光学功能薄膜 微结构厚度测试方法》 由TC431(全国光学功能薄膜材料标准化技术委员会)归口 ,主管部门为中国石油和化学工业联合会。
主要起草单位 中国乐凯集团有限公司 、合肥乐凯科技产业有限公司 、衡山县佳诚新材料有限公司 、浙江耀阳新材料科技有限公司 、深圳市纵横标准技术有限公司 、凯鑫森(上海)功能性薄膜产业股份有限公司 、东莞市光志光电有限公司 。
主要起草人 夏江南 、高建辉 、姜宁 、赵朔 、田坤 、韩明星 、程媛 、李宗 、刘玉磊 、刘文亮 、姚一凡 、李文沾 、赵建明 、曹建 、周鹏 、罗惠滨 。
来源:《中国航天报》,航天科技集团中国乐凯
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