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材料分析 红外元器件 红外整机及系统 激光元器件 激光整机及系统 颜色 其他等 光源 显示

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CNAS CMA 其他 无

所属单位

中国电子科技集团公司第十一研究 国家半导体器件质量检验检测中心 国家红外及工业电热产品质量检验检测中心 国防科技工业光电子一级计量站 宁波高等技术研究院 杭州远方光电信息股份有限公司 四川新视创伟超高清科技有限公司

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分光光度计
用于对物质进行定性和定量分析的方法。
1年前 162
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红外光谱仪
用于进行样品红外光谱的测试。
1年前 203
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等离子刻蚀
可进行硫系薄膜和硅材料的刻蚀。
1年前 126
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磁控溅射
磁控溅射,用于进行溅射镀膜。
1年前 215
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硬度压痕仪
用于测量压痕硬度。
1年前 116
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热膨胀仪
用于表征物体受热时,其长度、面积、体积都变化的程度。
1年前 161
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探针式表面轮廓仪
用于表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量。
1年前 208
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三维景深光学显微镜
用于进行样品形貌分析。
1年前 215
测试服务
红外可变角光谱椭偏仪
用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构。
1年前 196

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