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材料分析 红外元器件 红外整机及系统 激光元器件 激光整机及系统 颜色 其他等 光源 显示

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CNAS CMA 其他 无

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中国电子科技集团公司第十一研究 国家半导体器件质量检验检测中心 国家红外及工业电热产品质量检验检测中心 国防科技工业光电子一级计量站 宁波高等技术研究院 杭州远方光电信息股份有限公司 四川新视创伟超高清科技有限公司

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自动对芯精密调整平台
自动对芯精密调整平台,具有6自由度调节,分辨能力达到亚微米,主要用于光学元件的精密调节、 精确对芯,如:激光二极管输出激光准直镜装配,尾纤耦合等。
1年前 199
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ZYGO激光干涉仪
用于精确测量光学零件表面的面型精度、平行度等指标。
1年前 544
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非球面轮廓仪
用于平面、球面、非球面光学元件研磨及抛光阶段的面型测量及球面光学元件的曲率半径测量。
1年前 146
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PTI弱吸收测量仪
主要用于晶体材料内部杂质吸收和膜层缺陷弱吸收测试。
1年前 659
测试服务
分光光度计
测量内容:样品0-60度透过率的测量,样品6-68度反射率的测量,样品漫反射测量,偏振光p和s光的透过和反射测量。
1年前 148
测试服务
傅里叶红外光谱仪
主要用于红外材料和膜层的中、远红外光谱测量。
1年前 228
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原子力显微镜
用于超光滑光学表面加工粗糙度监控和膜层表面粗糙度监控。
1年前 334
测试服务
高精度测角仪
用于测量具有一定反光率的平面固体的几何角度,例如:晶体棱镜,金属多面体等。
1年前 479
测试服务
波长干涉仪
测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体波前畸变,例如:Ho:Cr:Tm:YAG、Er:YAG等。
1年前 156

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