主要用于晶体材料内部杂质吸收和膜层缺陷弱吸收测试。

用于精确测量光学零件表面的面型精度、平行度等指标。

用于测量具有一定反光率的平面固体的几何角度，例如：晶体棱镜，金属多面体等。

可测试-50℃到+65℃环境下的红外整机最小可分辨温差（MRTD）、最小可探测温差（MDTD）、噪声等效温差（NETD）、传递函数（MTF）、信号传递函数（SiTF）、固定图案噪声、空间分辨率等指标。"

用于超光滑光学表面加工粗糙度监控和膜层表面粗糙度监控。

用于测试红外光学物镜系统、望远系统的光学传递函数（MTF）、焦距、畸变等指标。

用于光学组件中心偏差的测量以及共轴光学系统的装调，也可用于共轴光学系统的光轴一致性的初步验证、复杂光学系统中不同镜片的中心偏差测试、晶体表面平整度测试等测试工作。

可测试红外整机最小可分辨温差（MRTD）、最小可探测温差（MDTD）、噪声等效温差（NETD）、传递函数（MTF）、视场、光轴一致性、空间分辨率、畸变等指标。"

主要用于红外材料和膜层的中、远红外光谱测量。