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材料分析 红外元器件 红外整机及系统 激光元器件 激光整机及系统 颜色 其他等 光源 显示

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CNAS CMA 其他 无

所属单位

中国电子科技集团公司第十一研究 国家半导体器件质量检验检测中心 国家红外及工业电热产品质量检验检测中心 国防科技工业光电子一级计量站 宁波高等技术研究院 杭州远方光电信息股份有限公司 四川新视创伟超高清科技有限公司

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三维景深光学显微镜
用于进行样品形貌分析。
1年前 216
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探针式表面轮廓仪
用于表面轮廓测量、薄膜厚度测量、表面形貌测量、应力测量和平整度等精密测量。
1年前 209
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紫外可见近红外稳态瞬态荧光光谱仪
用于测定有机和无机化合物的结构和含量以及间接检测特定有机物之间的反应机理。
1年前 201
测试服务
红外可变角光谱椭偏仪
用于探测薄膜厚度、光学常数以及材料微结构。
1年前 197
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热膨胀仪
用于表征物体受热时,其长度、面积、体积都变化的程度。
1年前 162
测试服务
差示扫描量热分析仪
差示扫描量热分析仪,使样品处于程序控制的温度下,观察样品和参比物之间的热流差随温度或时间的函数。
1年前 142
测试服务
X射线衍射仪
用于样品物相组成和结构的定性鉴定。
1年前 132
测试服务
硬度压痕仪
用于测量压痕硬度。
1年前 117
测试服务
台式扫描电镜
用于进行样品形貌分析。
1年前 86

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