测试服务PTI弱吸收测量仪
主要用于晶体材料内部杂质吸收和膜层缺陷弱吸收测试。
1年前 660
适用领域
测试资质
所属单位
排序
测试服务
测试服务原子力显微镜
用于超光滑光学表面加工粗糙度监控和膜层表面粗糙度监控。
1年前 336
测试服务傅里叶红外光谱仪
主要用于红外材料和膜层的中、远红外光谱测量。
1年前 230
测试服务单程损耗测试系统
测量晶体材料在1064nm波长激光单次通过后造成的光能量损耗。
1年前 163
测试服务波长干涉仪
测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体波前畸变，例如：Ho：Cr：Tm：YAG、Er：YAG等。
1年前 157
测试服务分光光度计
测量内容：样品0-60度透过率的测量，样品6-68度反射率的测量，样品漫反射测量，偏振光p和s光的透过和反射测量。
1年前 149
测试服务非球面轮廓仪
用于平面、球面、非球面光学元件研磨及抛光阶段的面型测量及球面光学元件的曲率半径测量。
1年前 147
测试服务消光比测试系统
测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体的消光比，例如：Ho:Cr:Tm:YAG、Er:YAG等。
1年前 136
测试服务测焦仪
用于正值或负值有效焦距、调制传递函数、后截距、曲率半径、角度等参数的测量。
1年前 127