用于光学系统中心间隔测量,也可用于折转光路光轴一致性的检测及调整及单个球面透镜、非球面透镜、柱面镜、双胶合透镜、三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度测量。
最大光学厚度:800mm。
测试精度:0.15μm。
测试尺寸:卡盘直径为200mm。