用于超灵敏探测技术领域中的单光子探测器计数特性参数测量。
测量波长:780nm、1550nm。
光子流速率测量不确定度:2.5%(k=2)。
探测效率测量不确定度:0.8%(k=2)。
后脉冲概率测量不确定度:20%(k=2)。
死时间测量不确定度:2%(k=2)。
暗计数率测量不确定度:2%~5%(k=2)。
时间抖动测量不确定度:5%(k=2)。