红外焦平面阵列探测率校准装置
服务类型:测试服务 发布时间: 1年前 发布者: 技术服务人员
- 适用领域： 红外元器件
- 检测资质： 其他
- 归属单位： 国防科技工业光电子一级计量站
- 费用明细： 面议
- 联系人： 张希富
- 联系方式： 15666133501
产品描述
用于测量红外焦平面阵列的黑体响应率、噪声、黑体探测率和响应率不均匀性等参数。同时可以对红外焦平面阵列黑体响应率、噪声、黑体探测率测试系统进行校准。
技术指标
黑体响应率测量不确定度：6%(k=2)
噪声测量不确定度：8%(k=2)
黑体探测率测量不确定度: 10%(k=2)
响应率不均匀性测量不确定度：1%(k=2)
关键字：红外,焦平面,焦平面阵列,探测率,黑体响应率,噪声,黑体探测率,响应率
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