2005
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1982
1981
1971
1958
1949
产品系列
FEI 系統是設計、策劃與製造來處理多樣化市場範圍廣泛的應用需求。不同類型的系統提供一般使用者不同的功能。FEI 系列類型包括:
SEM 用於運用放大範圍檢驗材料形勢,包括光學顯微鏡的形勢,並延伸到納米級。它們也提供化學成份分析。
TEM 使用高伏特的電子束來獲得超高解析度的樣品圖像,可以細到次埃層級,以利分析原子結構、晶體結構與試片成份。
DualBeam™ 系統是 3D 顯微鏡與分析 (以提供材料特性描述、行業故障分析與流程控制應用) 的偏好解決方案。它們是設計來提供小於 1 納米的整合式樣品製備與微分析,以獲得高產能的半導體與資料儲存 Fab 以及材料科學與生命科學實驗室。
IB 系統利用微細聚焦鎵離子束,在低束電流下操作以成像,以及在高束電流下操作以進行特定位置的銑切。它們的多樣化使它們廣泛用於各種應用方式,包括先進的電路編輯、半導體光罩的修補,以及揭露先進材料與裝置外表底下的缺陷。
FEI China – 北京辦事處
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