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中国自主研发的光学仪器仪表简史
发布时间:2010-08-25    来源:网络   阅读次数:649 分享到:

     1956年,世文仪器厂试制成功红旗0型低精度光学经纬仪。

    1964年,北京光学仪器厂研制成功DJ6-1型光学经纬仪,一测回水平方向中误差±6″。

    1974年,该厂在国内首次设计研制成功DJ07-1型高精度光学经纬仪。仪器一测回水平方向标准偏差±0.7″。

    1982年,研制成功TDJ2E型及TDJ6E型光学经纬仪。仪器为正像望远镜,与国际标准一致。

    1958年,北京市光学仪器厂试制成功DX型读数显微镜。

    1966年,北京市西城区福绥境光学仪器厂(1969年改名为北京市西城区光学仪器厂)试制成功XTD型体视显微镜。

    1970年,研制成功GX型光刻机显微镜。

    1979年,研制成功XZ型双目生物显微镜与XI型单目生物显微镜。放大倍数1600x。同年,北京电子光学设备厂同清华大学合作研制成功镜检显微镜。1982年,该厂研制成功XTL-Ⅱ型高倍摄影体视镜。放大倍率7~160x。

    1958年,北京科学仪器厂研制成功S3型光学水准仪。

    1971年12月,北京测绘仪器厂研制成功DS1型精密水准仪。每公里往返测高差偶然中误差±1毫米。

    1979年3月,该厂在国内首次研制成功DS3-Z型自动安平水准仪。每公里往返测高差偶然中误差±3毫米。

    1981年,北京光学仪器厂试制成功正像望远镜的DZS3-1型自动安平水准仪。1959年,北京市光学仪器厂试制成功WDP-4型中型石英摄谱仪。

    1965年,北京光学仪器厂研制成功WLP-5型大色散三玻璃棱镜摄谱仪,能完成谱线复杂的稀土元素分析。

    1967年,该厂研制成功WSP-1型中型平面光栅摄谱仪。波长范围200~800毫微米。

    1972年9月,北京第二光学仪器厂研制成功首台WZG-200型光电直读光谱仪(真空光量计)。波长范围175~340毫微米,能在2分钟内同时分析出20种元素。

    1963年,北京科学仪器厂研制成功变频式DGS-36型光电测距仪。1972年,北京光学仪器厂同武汉地震大队等联合研制成功国内首台定频式JCY-1型精密气体激光测距仪。

    1975~1976年,北京测绘仪器厂同北京大学等合作分别研制成功HGCⅠ型及DCH-1型红外测距仪,测程1公里。

    1987年,北京光学仪器厂同北京自动化技术研究所合作研制成功DCH3型红外测距仪。并用该仪器与TDJ2E型光学经纬仪组成DCJ32-1型测距经纬仪,用于边角联合测量。

    1964年,北京科学仪器厂试制成功氦氖激光器。

    1973年和1979年,该厂分别研制成功HN-T3型1米、HN-T4型1.8米外腔式氦氖激光器。输出功率分别为25毫瓦、50毫瓦。

    1974~1979年,北京光电技术研究所研制成功氮分子激光器、激光单色仪及QJD-5型氮分子激光器。

    1987年,该所研制成功YJ系列YAG激光医疗机。

    1988年,该所完成JWX-Ⅱ型激光雾化粒子照相系统的研制。该系统分辨率5微米,放大倍数4~12x。1990年,该所研制成功Nd∶YAG激光眼科治疗套机。

    1970年,北京科学仪器厂同北京有色金属研究院合作研制成功原子吸收分光光度计。

    1978年,北京分析仪器厂研制成功GFU-201型双光束原子吸收分光光度计。

    1976年12月,北京第二光学仪器厂同中国科学院长春应用化学研究所等合作研制成功WFL型激光喇曼分光光度计。杂散光10-8。

    1976~1985年,北京光学仪器厂相继研制成功CJ6型地磁经纬仪、DJD-1型激光定向经纬仪、TDJ2Z型自准直经纬仪、DJP-1型坡面经纬仪、DJX-1型径向测量经纬仪等。

    1977年12月,北京第二光学仪器厂同天津光学仪器厂等联合研制成功国内首台WFH400型红外分光光度计。

    1979年12月,北京第二光学仪器厂同南开大学等合作研制成功双光束双波长紫外可见分光光度计。波长范围200~800毫微米,杂散光小于1%。

    1983~1990年,该厂研制成功WFZ800-D3A型紫外可见分光光度计,采用微机控制,具有数据处理、存贮、记录、显示及打印功能。

    1984年,北京工业学院、北京天文馆等联合设计研制成功大型天象仪,演示厅天体半径23米。

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