XQ15-GⅠ激光平面干涉仪
可广泛用于工厂的计量室、光学车间和科研院所的实验室。光学平面的平面度测量、光学平板的微小楔角测量、光学材料均匀性测量、光学薄板波前误差的测量。>>>详细资料 |
XQ15-GⅡ数字式激光平面干涉仪
可广泛适用于计量实验室对高精度平面的平面度检测和鉴定。能根据不同的要求打印出各种平面度测试的彩色等高图以及三维立体透视图。并给出波峰波谷值(PV),最大面形误差(Em),均方根值(Rms),光圈数等面形评价参数。人体温度对测量可靠性的影响为最小。>>>详细资料 |
XQ15-GⅢ 实用型激光平面干涉仪
在保留XQ15-GⅠ激光平面干涉仪的用途及特点的状况下,更具实用性,可更广泛适用于大批量生产单位的生产车间。检验车间的平面度、微小楔角测量,更适合于大平板生产流水线快速筛选的应用。>>>详细资料 |
XQA 系列适配镜
适用于各种显微镜图像处理、闭路监控、轮廓检测的数字转切、CRT转切。特点是成像清晰、适用性强、配套性强。>>>详细资料 |
XQC-Ⅰ工业测量显微镜
可广泛适用于光学、机械、电子行业的几何尺寸精密测量。特别是刃具行业的形状测量。>>>详细资料 |
XQC-Ⅱ工业测量显微镜
可广泛用于光学、机械、电子行业的几何尺寸精密测量,特别是刃具行业的形状测量。>>>详细资料 |
XQ-DMZ 单目连续变倍视频体视显微系统
XQ-DMZ独特光学设计,结构新颖,表现最佳解像度及真实色彩影像。 景深大,视场宽,工作距离长,真正垂直光路。 大变倍范围,适合不同样本大小。 均匀照明整个视野,使用无光影同轴照明灯 电视显示、照相、电脑图象摄取和分析系统等,细致显现。>>>详细资料 |
XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪
XQFD-Ⅰ型反射式中心测定仪可广泛用于光学镜片、透镜胶合组胶合,光学镜头制造过程中的监控及测定,是光学元件加工厂、光学仪器生产厂及科研机构大专院校计量单位必备的光学检测设备。>>>详细资料 |
XQ-K150冷光源
适用于体视显微镜、工业显微镜等光学仪器的照明。具有照度强而均匀、光照强度连续可靠、照明位置随意可变等特点。>>>详细资料 |
XQ-SL-101型超冷光源
适用于体视显微镜、工业显微镜等光学仪器图像处理的反射、透射照明。具有使用寿命长、温度低、响应时快、照度更强更均匀、颜色可选性强等特点。>>>详细资料 |
XQL系列光学零部件
我们提供的各种光学球面透镜、球面反射镜,都是选用优质的光学玻璃、光学石英玻璃制造的。它们广泛运用在光学仪器、光谱分析仪器的聚光、调焦、瞄准和成像系统中。>>>详细资料 |
XQ-SMZ连续变倍体视显微镜系列
XQ-SMZ 是一种新型的连续变倍体视显微镜。这种显微镜的突出优点是:连续变倍。当您观察物体时,只需一次调焦,你就可以随意改变适合于观察标本的放大率。仪器物镜的连续变倍范围自0.7x~ 4.5x。
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XQT系列光学零部件
我们提供的采用照相复制技术制造的分划元件、测微尺广泛用于各种测量仪器、生化仪器、教育仪器。特别是显微镜用测微尺,以一种物镜尺六种目镜尺的配套功能,已成为各行业的检测部门实用的检测工具。
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XQ-UV点光源
广泛适用于光学、电子、化工行业UV胶固化、及高强度UV辐射等。
操作简便,光照集中均匀、UV胶固化速度快、设定可靠稳定,环保性能强。>>>详细资料 |
XQZ光学测角比较仪
可广泛适用于光学及机械制造业中,计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量;导轨的直线度及平板的平面度校准测量;两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
该系列仪器操作简便、直观,测量稳定可靠,借助辅助设备用途广泛。>>>详细资料 |