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材料分析 红外元器件 红外整机及系统 激光元器件 激光整机及系统 颜色 其他等 光源 显示

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CNAS CMA 其他 无

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中国电子科技集团公司第十一研究 国家半导体器件质量检验检测中心 国家红外及工业电热产品质量检验检测中心 国防科技工业光电子一级计量站 宁波高等技术研究院 杭州远方光电信息股份有限公司 四川新视创伟超高清科技有限公司

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测试服务
ZYGO激光干涉仪
用于精确测量光学零件表面的面型精度、平行度等指标。
1年前 548
测试服务
傅里叶红外光谱仪
主要用于红外材料和膜层的中、远红外光谱测量。
1年前 231
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磁控溅射
磁控溅射,用于进行溅射镀膜。
1年前 216
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红外光谱仪
用于进行样品红外光谱的测试。
1年前 204
测试服务
镜面定位仪
用于光学系统中心间隔测量,也可用于折转光路光轴一致性的检测及调整及单个球面透镜、非球面透镜、柱面镜、双胶合透镜、三胶合透镜和平面镜等光学元件的中心厚度测量。
1年前 180
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分光光度计
测量内容:样品0-60度透过率的测量,样品6-68度反射率的测量,样品漫反射测量,偏振光p和s光的透过和反射测量。
1年前 149
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非球面轮廓仪
用于平面、球面、非球面光学元件研磨及抛光阶段的面型测量及球面光学元件的曲率半径测量。
1年前 147
测试服务
测焦仪
用于正值或负值有效焦距、调制传递函数、后截距、曲率半径、角度等参数的测量。
1年前 127
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等离子刻蚀
可进行硫系薄膜和硅材料的刻蚀。
1年前 127

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