用于紫外焦平面阵列器件响应率、响应非均匀性、相对光谱响应、调制传递函数等特性参数的计量校准。
波长范围:250nm~400nm
响应率测量不确定度:6%(k=2)
响应非均匀性测量不确定度:3%(k=2)
相对光谱响应测量不确定度:5%(k=2)
调制传递函数测量不确定度:0.12(k=2)